我院新生兒科引進aEEG技術造福更多新生腦損傷寶寶
發(fā)布時間：2022-03-10來源：瀏覽：
隨著圍產醫(yī)學和新生兒醫(yī)學的發(fā)展及危重新生兒搶救水平的提高，新生兒病死率逐漸下降，極早產兒和超早產兒存活率逐步上升，但是由于存活下來的危重新生兒和小胎齡早產兒均是發(fā)生圍產期腦損傷的高危人群，故新生兒神經系統(tǒng)后遺癥發(fā)生率并無顯著降低。振幅整合腦電圖(aEEG)是一種簡便、可以連續(xù)監(jiān)測腦功能的監(jiān)護儀器，具有操作簡單、受外界干擾少、圖形直觀、易于分析判斷，且可長時間連續(xù)監(jiān)測的特點。通過背景活動、癇性活動、睡眠覺醒周期等波形變化，檢測是否出現(xiàn)癇性放電，并評估新生兒腦成熟程度。
一、aEEG檢測的適用范圍
1.有腦損傷表現(xiàn)或存在腦損傷高危因素的新生兒，高危因素包括圍產期缺氧窒息史、新生兒頑固性低血糖、先天性遺傳代謝病、顱內出血、腦卒中、中樞神經系統(tǒng)感染、嚴重高膽紅素血癥等，用于發(fā)現(xiàn)腦損傷、評價腦損傷的程度和預后；
2.新生兒腦發(fā)育的評估；
3.新生兒驚厥和可疑驚厥發(fā)作的檢測
4.腦損傷治療效果的評估，如亞低溫治療、抗驚厥藥物止驚治療。
二、 檢測時間
對于有腦損傷高危因素的新生兒，出生后6 h內即開始首次檢查；對于無高危因素、但臨床出現(xiàn)腦病癥狀的，應盡快給予檢測。檢測時間不少于2~4 h，存在睡眠?覺醒周期（睡眠周期）的新生兒，需記錄至少一個完整的睡眠周期。對需持續(xù)監(jiān)測病情變化的患兒，可延長檢測時間，如進行亞 低 溫 治 療 的 中 ? 重 度 缺 氧 缺 血 性 腦 病（hypoxic -ischemia encephalopathy，HIE）患兒持續(xù)監(jiān)測至生后72~96 h，對腦損傷恢復程度和預后評價 ，以 及 驚 厥 檢 測 都 有 較 高 的 敏 感 度 和 特 異度［19?20］。
三、復查指征和時間間隔
1、腦損傷患兒：首次檢查后每24 h復查一次，持續(xù)至 72 h 或 aEEG 常，若 72 h 復查 aEEG 仍異常，1周左右復查，其后每周1次，直至aEEG正常。驚厥患兒連續(xù)監(jiān)測至驚厥控制（即患兒臨床表現(xiàn)和EEG檢查均未檢測到發(fā)作）后24 h［14］。如持續(xù)腦電監(jiān)測實施困難，可根據(jù)各單位具體情況適當調整。
2、早產兒：建議每2周復查一次至校正胎齡40周或腦電成熟度同足月兒。
我院新生兒科投入使用新生兒腦功能監(jiān)測儀，標志著我院新生兒科及新生兒神經重癥監(jiān)護單元的整體診療水平更上一層樓，為提高對新生兒腦損傷的診斷水平，改善腦損傷患兒的預后，減少神經系統(tǒng)后遺癥的發(fā)生，切實提高生存質量邁出了關鍵的一步。